数之联在 BOE 的 I3Plat 建设中使用 Karmada
行业背景
在液晶面板生产领域,由于多种因素,产品常出现不良品。为此,关键工艺节点后引入了自动光学检测(AOI)设备,通过光学原理检测常见缺陷。然而,现有 AOI 设备仅识别缺陷有无,需要人工分类和识 别假缺陷,这一过程耗时且影响生产效率。BOE 集团引入自动缺陷分类系统(ADC)以提高判定准确性并减轻劳动强度,使用深度学习技术自动分类 AOI 输出的缺陷图片,并筛除误判,从 而提高生产效率。
BOE 率先在一个工厂引入 ADC,后续在其他工厂推广,节省人力资源,提高判定效率。尽管如此,由于工艺复杂和供应商差异,现场建设呈现出割裂和分散管理的趋势,给数据共享和运维带来困难。为解 决这些问题,BOE 启动了工业智能检测平台(I3Plat)的建设,该平台利用人工智能技术,标准化智能检测并提高生产效率和良率。

I3Plat 将 ADC 作为核心,扩展至模型训练和检测复判,实现“云”(管理+训练)+“边”(推理)+“端”(业务)的一体化方案,旨在通过标准化平台提高生产质量和数据价值。建设范围包括资源共享中心、现地 训练和边侧推理等子平台,将在若干工厂实施。

项目目标是实现现地 ADC 上线、资源共享和云边端标准化,以减轻运维负荷、提升标准。I3Plat 旨在通过规范化和标准化 BOE 集团的 ADC 系统,为后续 ADC 建设提供样本和模板,降低成本和周期,提高生 产和质检效率以及产品良率。包含系统管理员、资源配置员等用户角色,并涉及 ADC 推理、模型训练、数据共享等信息流,以及云端协同功能,确保 ADC 的自动缺陷分类生产过程,并提高模型和缺陷图片的 利用率。